1. Advances in the Crystallographic and Microstructural Analysis of Charge Density Wave Modulated Crystals
پدیدآورنده: edited by Frank W. Boswell, J. Craig Bennett.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Crystallography.,Physics.,Surfaces (Physics).
2. Atlas of backscattering Kikuchi diffraction patterns
پدیدآورنده: Dingley, David J.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Materials - Microscopy , Scanning electron microscopy , Diffraction patterns , Crystallography
رده :
TA
417
.
23
.
D56
3. Atlas of backscattering Kikuchi diffraction patterns
پدیدآورنده: / D.J. Dingley, K.Z. Baba-Kishi, V. Randle
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Materials--Microscopy,Scanning electron microscopy.,Diffraction patterns.,Crystallography.
رده :
TA
,
417
.
23
,.
D56
,
1995
4. 4D electron microscopy :
پدیدآورنده: Ahmed H. Zewail, John M. Thomas.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع:
5. Electron Crystallography of Organic Molecules
پدیدآورنده: edited by John R. Fryer, Douglas L. Dorset.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Crystallography -- Congresses.,Electron microscopy -- Congresses.,Organic compounds -- Congresses.
6. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده : edited by Adam J. Schwartz, Mukul Kumar, and Brent L. Adams
موضوع : ، Materials, Microscopy,، Scanning electron microscopy,، Crystallography
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
7. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده: / Adam J. Schwartz ... [et al.], eds
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Materials--Microscopy,Scanning electron microscopy.,Crystallography.,Elektronenbeugung.--swd,Kristallographie.--swd,Reuckstreuung.--swd
رده :
TA
,
417
.
23
,.
E419
,
2009
8. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده: / Adam J. Schwartz ... [et al.], eds
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Materials -- Microscopy,Scanning electron microscopy,Crystallography,Elektronenbeugung,Kristallographie.,Rèuckstreuung.
رده :
TA
417
.
23
.
E419
2009
9. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Materials ; Microscopy. ; Scanning electron microscopy. ; Crystallography. ; Elektronenbeugung. ; swd. ; Kristallographie. ; swd. ; R?ckstreuung. ; swd. ;
10. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده:
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Materials- Microscopy,Scanning electron microscopy,Crystallography
رده :
TA417
.
23
.
E419
2000
11. Electron microscopy
پدیدآورنده:
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Electron microscopy, Laboratory manuals.,Histology-- Technique.
12. Microstructural characterization of materials /
پدیدآورنده: David Brandon and Wayne D. Kaplan
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Materials-- Microscopy,Microstructure,Materiais,Microscopia
رده :
TA417
.
23
.
B73
2008
13. Ribosomes /
پدیدآورنده: edited by Harry F. Noller, Jr., Kivie Moldave
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Ribosomes,Ribosomes-- enzymology
14. Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
پدیدآورنده: Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Scanning electron microscopy.,Biology, life sciences.,Mensuration & systems of measurement.,Scanning electron microscopy.,Science-- Life Sciences-- General.,Science-- Spectroscopy & Spectrum Analysis.,Science-- Weights & Measures.,Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry.,Technology & Engineering-- Material Science.,Testing of materials.
رده :
QH212
.
S3
